{"product_id":"semiconductor-device-and-failure-analysis-wai-kin-chim-9780471492405","title":"Semiconductor Device and Failure Analysis: Using Photon Emission Microscopy","description":"Integrierte Schaltkreise werden immer komplexer - deshalb wird es zunehmend schwieriger, Fehler schnell und treffsicher aufzuspüren. Die Photonenemissionsmikroskopie (PEM) ist eine Analysetechnik auf physikalischer Grundlage, die sich als Fehlererkennungsmethode bewährt hat. Dieser Band erläutert alle Aspekte dieser Methode, von der instrumentellen Ausrüstung über spezifische Details der Mikroskope bis hin zu Merkmalen der Photonenemission unter verschiedenen Bedingungen. (11\/00)\u003cbr\u003e\u003cbr\u003e\u003cb\u003eAuthor:\u003c\/b\u003e Wai Kin Chim\u003cbr\u003e\u003cb\u003eISBN-10:\u003c\/b\u003e 047149240X\u003cbr\u003e\u003cb\u003eISBN-13:\u003c\/b\u003e 9780471492405\u003cbr\u003e\u003cb\u003ePublisher:\u003c\/b\u003e Wiley\u003cbr\u003e\u003cb\u003eLanguage:\u003c\/b\u003e English\u003cbr\u003e\u003cb\u003ePublished:\u003c\/b\u003e 12\/22\/2000\u003cbr\u003e\u003cb\u003ePages:\u003c\/b\u003e 288\u003cbr\u003e\u003cb\u003eFormat:\u003c\/b\u003e Hardcover\u003cbr\u003e\u003cb\u003eWeight:\u003c\/b\u003e 1.58lbs\u003cbr\u003e\u003cb\u003eSize:\u003c\/b\u003e 10.00h x 7.00w x 0.69d\u003cbr\u003e\u003cbr\u003e\u003cb\u003eReview Citation(s): \u003c\/b\u003e\u003cbr\u003e\u003ci\u003eScitech Book News\u003c\/i\u003e 06\/01\/2001 pg. 162","brand":"Wai Kin Chim","offers":[{"title":"Hardcover","offer_id":48435415417087,"sku":"9780471492405","price":258.95,"currency_code":"USD","in_stock":true}],"thumbnail_url":"\/\/cdn.shopify.com\/s\/files\/1\/0662\/2982\/9887\/files\/img_391533e5-bde1-48d9-aa90-8b5630798ace.jpg?v=1777150236","url":"https:\/\/www.whiterainbookhouse.com\/products\/semiconductor-device-and-failure-analysis-wai-kin-chim-9780471492405","provider":"WR Book House","version":"1.0","type":"link"}