Semiconductor Device and Failure Analysis: Using Photon Emission Microscopy by Chim, Wai Kin

Semiconductor Device and Failure Analysis: Using Photon Emission Microscopy (Hardcover) (ISBN-13: 9780471492405)

Vendor: Wai Kin Chim
Product type: Books
Format: Hardcover
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Semiconductor Device and Failure Analysis: Using Photon Emission Microscopy by Chim, Wai Kin

Semiconductor Device and Failure Analysis: Using Photon Emission Microscopy

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Semiconductor Device and Failure Analysis: Using Photon Emission Microscopy by Chim, Wai Kin

Semiconductor Device and Failure Analysis: Using Photon Emission Microscopy

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Description
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Integrierte Schaltkreise werden immer komplexer - deshalb wird es zunehmend schwieriger, Fehler schnell und treffsicher aufzuspüren. Die Photonenemissionsmikroskopie (PEM) ist eine Analysetechnik auf physikalischer Grundlage, die sich als Fehlererkennungsmethode bewährt hat. Dieser Band erläutert alle Aspekte dieser Methode, von der instrumentellen Ausrüstung über spezifische Details der Mikroskope bis hin zu Merkmalen der Photonenemission unter verschiedenen Bedingungen. (11/00)

Author: Wai Kin Chim
ISBN-10: 047149240X
ISBN-13: 9780471492405
Publisher: Wiley
Language: English
Published: 12/22/2000
Pages: 288
Format: Hardcover
Weight: 1.58lbs
Size: 10.00h x 7.00w x 0.69d

Review Citation(s):
Scitech Book News 06/01/2001 pg. 162
By Wai Kin Chim
By Wai Kin Chim
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Wai Kin Chim is the author of Semiconductor Device and Failure Analysis: Using Photon Emission Microscopy, published by Wiley.

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